Максимов, А. Д., Азаркевич, Е. И. ., Бекетов, И. В. ., & Колеух, Д. С. . (2023). Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010. Materials. Technologies. Design, 5(2 (12), 48–56. https://doi.org/10.54708/26587572_2023_521248