Максимов, Артем Дмитриевич, Евгений Иосифович Азаркевич, Игорь Валентинович Бекетов, и Диана Сергеевна Колеух. 2023. «Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010». Materials. Technologies. Design 5 (2 (12):48-56. https://doi.org/10.54708/26587572_2023_521248.