Максимов, А. Д., Азаркевич, Е. И. ., Бекетов, И. В. . и Колеух, Д. С. . (2023) «Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010», Materials. Technologies. Design, 5(2 (12), сс. 48–56. doi: 10.54708/26587572_2023_521248.