Максимов, А. Д., Е. И. . Азаркевич, И. В. . Бекетов, и Д. С. . Колеух. «Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010». Materials. Technologies. Design, т. 5, вып. 2 (12), ноябрь 2023 г., сс. 48-56, doi:10.54708/26587572_2023_521248.